Hakutulokset
Selaa lehtiä
- Näytetään 1 - 11 / 11
Hakutulos 1
Kieli: | eng |
---|---|
Julkaisija: | Basel, Switzerland : MDPI 2018- |
ISSN: |
2571-5577 |
Aiheet: | |
Tallennettuna: |
|
Hakutulos 2
Kieli: | eng |
---|---|
Julkaisija: | [Washington, D.C.] : [Computer Society Press] [1987]- [Piscataway, NJ] : |
Aiheet: | |
Tallennettuna: |
|
Hakutulos 3
Verkossa saatavilla:
Hae kokoteksti
Kieli: | eng |
---|---|
Julkaisija: | Niš, Serbia : University of Niš |
ISSN: |
2335-0164 |
Aiheet: | |
Tallennettuna: |
|
Hakutulos 4
Verkossa saatavilla:
Hae kokoteksti
Kieli: | eng |
---|---|
Julkaisija: | [Piscataway, NJ] : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc [2011]- |
ISSN: |
2473-716X |
Aiheet: | |
Tallennettuna: |
|
Hakutulos 5
Verkossa saatavilla:
Hae kokoteksti
Kieli: | eng |
---|---|
Julkaisija: | Piscataway, NJ : Red Hook, NY : Institute of Electrical and Electronics Engineers ; Available from Curran Associates |
Aiheet: | |
Tallennettuna: |
|
Hakutulos 6
Verkossa saatavilla:
Hae kokoteksti
Kieli: | eng |
---|---|
Julkaisija: | [Piscataway, NJ] : [IEEE] |
Aiheet: | |
Tallennettuna: |
|
Hakutulos 7
International journal of advances in engineering and technology Näytä tarkat tiedot
E-kausijulkaisu
2011
Verkossa saatavilla:
Hae kokoteksti
Kieli: | eng |
---|---|
Julkaisija: | [India] : [publisher not identified] |
Aiheet: | |
Tallennettuna: |
|
Hakutulos 8
International journal of metrology and quality engineering Näytä tarkat tiedot
E-kausijulkaisu
2010
Verkossa saatavilla:
Hae kokoteksti
Kieli: | eng |
---|---|
Julkaisija: | Les Ulis, France : EDP Sciences 2010- |
ISSN: |
2107-6847 |
Aiheet: | |
Tallennettuna: |
|
Hakutulos 9
Verkossa saatavilla:
Hae kokoteksti
Kieli: | eng |
---|---|
Julkaisija: | Piscataway, NJ : Institute of Electrical and Electronic Engineers |
Aiheet: | |
Tallennettuna: |
|
Hakutulos 10
Kieli: | eng |
---|---|
Julkaisija: | Los Alamitos, California : IEEE Computer Society |
ISSN: |
2642-6102 |
Aiheet: | |
Tallennettuna: |
|
Hakutulos 11
Kieli: | eng |
---|---|
Julkaisija: | Piscataway, NJ : IEEE |
Aiheet: | |
Tallennettuna: |
|