Edellinen kuva
Lähennä
Loitonna
Keskitä
Seuraava kuva
Siirry sisältöön
Janet Finnan kansainvälisten artikkeleiden haku vaatii toistaiseksi kirjautumista. Pahoittelemme.
Etusivu
Haku
Tarkennettu haku
Kansainvälisten artikkeleiden haku
Hae keskitetystä sähköisten aineistojen indeksistä, joka sisältää mm. artikkeleiden kokotekstejä, viitetietokantoja ja e-kirjoja. Huomioi, että Jamkin kirjasto ei ole ostanut käyttöoikeutta kaikkiin aineistoihin.
Tarkennettu kansainvälisten artikkeleiden haku
Selaa luetteloa
Selaa avainsanojen, tekijän, aiheen, genren, alueen tai aikakauden mukaan.
Selaa tietokantoja
Jamkin tarjoamat tietokannat.
Selaa lehtiä
Hakuhistoria
Istuntokohtainen hakuhistoriasi. Kirjautumalla voit tallentaa hakusi.
Tietoa meistä
Tietoa meistä
Kirjaston verkkosivut
Kirjastot ja aukioloajat
Finna - hakupalvelujen kokonaisuus
Finna on hakupalvelujen kokonaisuus, johon kuuluu monia sivustoja valtakunnallisen finna.fi:n lisäksi. Organisaatiokohtaiset sivustot ovat rajattuja pääasiassa yhden organisaation aineistoihin.
Ohje
Hakuohje
Kirjautumisohje
Video-ohjeita
Video-ohjeita Janetin tärkeimpiin toimintoihin
Finto
Hae aiheeseesi sopivia hakusanoja
Suomi
Suomi
English
Kirjaudu
Haku
Hae
Kaikki osumat
Kaikki osumat
Otsikko
Tekijä
Aihe
Hae
Tarkennettu haku
Proceedings
Lisää suosikkeihin
Lähetä sähköpostilla
Vie viite
Vienti: RefWorks
Vienti: EndNoteWeb
Vienti: EndNote
Viitetiedot
Tulosta
QR-koodi
Proceedings
1
Edelliset kuvat
Seuraavat kuvat
lisää
vähemmän
Kuvaan voi liittyä käytön rajoituksia.
Katso käyttöehdot
Finna-arvio
Lisää ensimmäinen arvostelu. Kaikki arvostelut ovat julkisia.
Proceedings
DESC
SOURCE
Hae kokoteksti
Lataa…
E-kausijulkaisu
IEEE Computer Society. Technical Council on Test Technology
;
IEEE Computer Society. Design Automation Technical Committee
IEEE Computer Society
Tallennettuna:
Genre
Conference papers and proceedings
Kieli
englanti
Julkaisija
Los Alamitos, Calif. :
IEEE Computer Society
Luokitus
dlc TK7874.58 I444 (Online)
Dewey-luokitus
621
Aiheet
Integrated circuits
→
Verification
→
Congresses.
Integrated circuits
→
Design and construction
→
Congresses.
Electronic circuits
→
Testing
→
Congresses.
Microprocessors
→
Testing
→
Congresses.
Electronic circuits
→
Testing.
Integrated circuits
→
Design and construction.
Integrated circuits
→
Verification.
Microprocessors
→
Testing.
Lisätiedot
IEEE International High-Level Validation and Test Workshop
Alasarja
2010 IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop (HLDVT)
2011 IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop
2012 IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop (HLDVT)
2007 IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop
2008 IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop
High Level Design Validation and Test Workshop, 2009. HLDVT 2009. IEEE International
High-Level Design Validation and Test Workshop, 2006. Eleventh Annual IEEE International
Muu ilmiasu
1552-6674
Julkaistu
Began in 1996.
Julkaisutiheys
Annual
Huomautukset
Vols. for 2001-2006 also called: 7th-11th
Sponsored by: IEEE Computer Society Technical Council on Test Technology <2000-2008>; IEEE Computer Society Technical Committee on Design Automation, <2000-2008>
Hae kokoteksti
Lataa…
Näytä kaikki tiedot
Näytä vähemmän
Saatavuustiedot
Kommentit
(
0
)
Henkilökuntanäyttö
Saatavuustiedot
Kommentit (
0
)
Henkilökuntanäyttö
Tämän aineiston tarjoaa
Jyväskylän ammattikorkeakoulu
Kysymyksiä tai palautetta aineistosta?
Ota yhteyttä
Tämän aineiston tarjoaa
Jyväskylän ammattikorkeakoulu
Kysymyksiä tai palautetta aineistosta?
Ota yhteyttä
Lisää suosikkeihin
Share
Whatsapp
Lähetä sähköpostilla
Vie viite
Vienti: RefWorks
Vienti: EndNoteWeb
Vienti: EndNote
Viitetiedot
Saatavuustiedot